装备制造
| 设备名称： | 四探针分析仪 |
| 基地名称： | |
| 单位名称： | |
| 分类： | |
| 厂商及型号： | SDY-4 |
| 购置时间： | 2009 |
| 国别： | 美利坚合众国 |
| 性能参数 ： | 测量范围: 电阻率:0.001-200Ω.cm 方块电阻:0.01-2000Ω/口 |
| 主要功能和用途: | |
| 本仪器可满足半导体材料、器件的研究生产单位对材料(棒材、片材)电阻率及扩散层、离子注入层、异型外延层和导电薄膜方块电阻测量的需要 | |
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| 设备名称： | 四探针分析仪 |
| 基地名称： | |
| 单位名称： | |
| 分类： | |
| 厂商及型号： | SDY-4 |
| 购置时间： | 2009 |
| 国别： | 美利坚合众国 |
| 性能参数 ： | 测量范围: 电阻率:0.001-200Ω.cm 方块电阻:0.01-2000Ω/口 |
| 主要功能和用途: | |
| 本仪器可满足半导体材料、器件的研究生产单位对材料(棒材、片材)电阻率及扩散层、离子注入层、异型外延层和导电薄膜方块电阻测量的需要 | |
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