仪器设备

设备名称:  透射电子显微镜
制造厂商:  日本电子株式会社
规格型号:  JEM-2010HR
购置日期:  1970年
联系人:  中山大学测试中心
联系方式:  020-84110195
所属单位:  中山大学测试中心
性能参数:

技术指标:
      点分辨率 : 0.23 nm
      晶格分辨率 : 0.14 nm 
      最高电压 :200 kV
      放大倍数: x 2,000 ~ x 1,500,000
附件:双轴倾斜样品台和冷冻样品台

应用范围:
       该型号电子显微镜,属中高压、高分辨率透射电子显微镜,最高加速电压为 200kV 。是研究各种材料的超显微结构与性能关系所不可缺少的工具。可广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学,金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域的科研和教学。透射电镜与扫描电镜最大不同之处是分辨率极高(原子级);放大倍数大(150万倍,另加机上10倍光学镜,可达1500万倍的观察能力),最大特点是能反映样品的内部结构。例如纳米管样品,可以观察到空芯的图像信息,而扫描电镜则无法开展此类研究。

样品要求:
       由于受电镜高压限制,透射电子束一般只能穿透厚度为几十纳米以下的薄层样品。除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外,其它样品的制备方法主要有物理减薄(离子和双喷减薄等)和超薄切片法。一般情况下,需要采用物理减薄法的样品制备过程,须由用户自己完成(不具备此制样条件的院系,可借用本室的相关设备)。超薄切片样品的制备,需经样品前处理、包埋、 切片等复杂工序,周期较长(约一周左右)。
       由于该仪器是高分辨型电镜,为确保仪器性能和发挥其高分辨象观察特点,目前主要接受材料领域的样品。

送样须知:
       送样检测请先到测试中心业务办公室登记。需自己上机观察者,请与电镜室预约机时。技术问题可直接与电镜室联系。扫描观察样品和用滴样法制备透射观察样品,请提前半天到电镜室制样。按中心规定,请在办理缴费手续后取结果。未经同意,三个月以上未结帐的用户,将会影响该单位用机预约安排。

主要功能和用途:



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